Pdf-книга
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Цена : 80 руб.
-
Автор: И. Атовмян
-
Жанр: Математика
О книге
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.